jueves, 29 de junio de 2023

Curso sobre técnicas de Rayos X y de Radiación

En  la Escuela  de Ciencia y Tecnología de la Universidad Nacional de San Martín, se desarrollará del 10 al 22 de julio de 2023 la  Primera Escuela Aldo Félix Craievich de Técnicas de Rayos X Convencionales y de Radiación Sincrotrón para Caracterización de Materiales.  El curso es gratuito, únicamente con modalidad presencial, y está reconocido por el Doctorado en Ciencias Aplicadas y de la Ingeniería de la Escuela de Ciencia y Tecnología (ECyT) de la Universidad Nacional de San Martín (UNSAM), San Martín, provincia  de Buenos Aires, Argentina. Está dedicado a la memoria del Prof. Aldo Félix Craievich, quien impulsó las técnicas de rayos X convencionales y de luz sincrotrón en América Latina.

Organiza el Laboratorio de Cristalografía Aplicada (L.C.A.) del Instituto de Tecnologías Emergentes y Ciencias Aplicadas (ITECA, CONICET/Escuela de Ciencia y Tecnología-UNSAM)

Contenidos

  • Fuentes de rayos X convencionales y fuentes de luz sincrotrón
  • Difracción de rayos X de polvos
  • Dispersión de rayos X a bajo ángulo y ultrabajo ángulo (SAXS/USAXS)
  •  Espectroscopías de absorción de rayos X (XANES y EXAFS)
  • Reflectometría de rayos (XRR)

Profesor responsable

Dr. Diego G. Lamas (Laboratorio de Cristalografía Aplicada, ITECA. ECyT-UNSAM/CONICET)

Fecha 

10 al 22 de julio del 2023

Lugar

Escuela de Ciencia y Tecnología de la Universidad Nacional de San Martín (Campus Miguele de la UNSAM, San Martín, Pcia. de Buenos Aires, Argentina)

Contacto/consultas

 LCA@unsam.edu.ar o DLAMAS@unsam.edu.ar

Modalidad

Presencial, con clases teóricas y prácticas: prácticas de laboratorio, resolución de problemas y análisis de datos. Las clases prácticas de laboratorio incluirán experimentos de difracción de rayos X de polvos, dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS) y ultra bajo ángulo (USAXS), SAXS-USAXS combinado con dispersión a ángulos intermedios (WAXS) y reflectometría de rayos X (XRR) empleando equipamiento existente en el Laboratorio de Cristalografía Aplicada de la ECyT-UNSAM.

Duración

 2 semanas   Fechas: 10 a 22 de julio de 2023

Carga horaria: 96 horas Clases diarias de 9 hs de lunes a viernes 8:30 a 13 y 14 a 18:30 hs, sábado de 9:30 a 12:30 para evaluación.


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